半導體參數測試儀iv、cv一鍵測的簡單介紹具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試半導體參數測試儀iv、cv一鍵測的詳細信息概述: SPA-6100半導體參數測試儀iv、cv一鍵測是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統,具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導體芯片器件設計以及先進工藝的開發,具有桌越的測量效率與可靠性。 基于模塊化的體系結構設計,SPA-6100半導體參數分析儀可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量。SPA-6100半導體參數分析儀搭載普賽斯自主開發的專用半導體參數測試軟件,支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作,能夠從測量設置、執行、結果分析到數據管理的整個過程,實現高效和可重復的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。 產品特點: 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力; 測量精度高,全量程下可達0.03%精度; 內置標準器件測試程序,直接調用測試簡便; 自動實時參數提取,數據繪圖、分析函數; 在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線; 免費提供上位機軟件及SCPI指令集; 典型應用: 納米、柔性等材料特性分析; 二極管; MOSFET、BJT、晶體管、IGBT; 第三代半導體材料/器件; 有機OFET器件; LED、OLED、光電器件; 半導體電阻式等傳感器; EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管; 電阻率系數和霍爾效應測量; 太陽能電池; 非易失性存儲設備; 失效分析; 目前,武漢普賽斯儀表有限公司的產品已經覆蓋了10pA-6000A、300mV-10KV的電壓電流范圍,并在多個領域展現出絕對優勢。特別是在聚焦SiC/IGBT/GaN第三代半導體的電源及測試需求方面,我司在8000V、1000A以上量程及測試性能均處于絕對優勢地位。此外,在大功率激光器測試、PD、APD、SPAD、SIPM晶圓測試及老化電源市場,普賽斯儀表的產品也能夠滿足絕大多數應用場景的需求。更多有關半導體參數測試儀iv、cv一鍵測的信息上普賽斯儀表官&網咨詢 以上是半導體參數測試儀iv、cv一鍵測的詳細信息,如果您對半導體參數測試儀iv、cv一鍵測的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問,請聯系我們獲取半導體參數測試儀iv、cv一鍵測的最新信息 |